Medição da espessura de filmes finos por espectrometria de raios-X (XRF)

A medição é realizada num instrumento Hitachi EA6000VX XRF, capaz de medições de espessura de revestimento, incluindo medição de espessura de revestimento de filmes ultrafinos de Au. A análise de substâncias perigosas como o Pb no revestimento pode ser efetuada simultaneamente com as medições da espessura do revestimento. Por exemplo, as possibilidades incluem a medição da composição de substâncias perigosas em resvestimentos de solda sem Pb, revestimentos de Sn de estruturas de chumbo e revestimentos de Ni eletrolítico.