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Aquisição de imagem por Microscopia de Força Atómica (AFM)

Obtenção de imagem por microscopia de força atómica (AFM)

As imagens são obtidas num instrumento AFM/STM podendo realizar STM e AFM em contato, sem contato e semicontato, EFM, KPM, SCM, MFM, PFM e muitos outros modos. É equipado com campo magnético no plano e fora do plano e dispositivo para aquecimento da amostra até 300ºC. Estão disponíveis os modos de varrimento por ponta e varrimento por amostra. O instrumento é isolado acusticamente numa mesa antivibração ativa para medições de baixo ruído.

Técnica:
  • Microscopia de força atómica (AFM)
Método:AFM, Microscopia de Força Atómica
Produto analisado:
  • Filmes finos
Forma de acesso
  • Físico
Modo de acesso
  • Pago
Disponibilidade geográfica
  • Mundo
Idiomas
  • Inglês
  • Português

Perguntas frequentes

José António Paixão

CFisUC

Pedro Sidónio Pereira da Silva

Universidade de Coimbra

Técnico