Aquisição de imagem por Microscopia de Força Atómica (AFM)
Obtenção de imagem por microscopia de força atómica (AFM)
As imagens são obtidas num instrumento AFM/STM podendo realizar STM e AFM em contato, sem contato e semicontato, EFM, KPM, SCM, MFM, PFM e muitos outros modos. É equipado com campo magnético no plano e fora do plano e dispositivo para aquecimento da amostra até 300ºC. Estão disponíveis os modos de varrimento por ponta e varrimento por amostra. O instrumento é isolado acusticamente numa mesa antivibração ativa para medições de baixo ruído.
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