/ Estruturas

Trace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)

TAIL é uma plataforma analítica de UC de suporte a todas as atividades de I&D que requerem informação detalhada ao nível vestigial (sup-ppm) sobre composição elementar, complementada com imagiologia de alta resolução e/ou medição de propriedades físicas.

5 serviços disponíveís

Análise de fluorescência de RX (XRF) por espetrometria dispersiva em energia (SEM/EDS)

Obtenção de espectros de fluorescência de raios-X por excitação de feixe eletrónico (espectroscopia EDS)

Aquisição de imagem por Microscopia de Força Atómica (AFM)

Obtenção de imagem por microscopia de força atómica (AFM)

Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM)

Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM).

Caracterização de filmes finos e multicamadas por refletometria de RX (XRR)

Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)

Medição da espessura de filmes finos por espectrometria de raios-X (XRF)

Measurement of the thickness of thin films and coatings by X-ray fluorescence (XRF)