/ Estruturas

Trace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)

TAIL é uma plataforma analítica de UC de suporte a todas as atividades de I&D que requerem informação detalhada ao nível vestigial (sup-ppm) sobre composição elementar, complementada com imagiologia de alta resolução e/ou medição de propriedades físicas.

4 serviços disponíveís

Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM)

Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM).

Medição da espessura de filmes finos por espectrometria de raios-X (XRF)

Measurement of the thickness of thin films and coatings by X-ray fluorescence (XRF)

Revestimento com carbono de amostras para SEM

Revestimento por película de cabono de amostras para análise/imagem por microscopia eletrónica de varrimento SEM

Revestimento metálico por sputtering de amostras para SEM

Revestimento metálico de amostras para microscopia eletrónica de varrimento (SEM) por sputtering