/ Estruturas

Trace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)

TAIL é uma plataforma analítica de UC de suporte a todas as atividades de I&D que requerem informação detalhada ao nível vestigial (sup-ppm) sobre composição elementar, complementada com imagiologia de alta resolução e/ou medição de propriedades físicas.

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Caracterização de filmes finos e multicamadas por refletometria de RX (XRR)

Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)