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Service provided byTrace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)
Characterisation of thin films and coatings by Grazing Incidence X-ray diffraction (GIXRD)
Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)
Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)
Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) a temperatura variável (ambiente - 1450 ºC) para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)
Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)